島津レーザ回折式粒度分布測定装置SALD-2000によるサブミクロン粒子の測定

林田和弘; 丹羽猛; 島岡治夫

文献

J-GLOBAL ID：200902084711138626 整理番号：92A0097497

島津レーザ回折式粒度分布測定装置SALD-2000によるサブミクロン粒子の測定

Measurement of Submicron Particles with Shimadzu Laser Diffraction Particle Size Analyzer SALD-2000.

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資料名：
巻： 48 号： 3 ページ： 309-318 発行年： 1991年12月
JST資料番号： F0302A ISSN： 0371-005X CODEN： SHHYAG 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：日本 (JPN) 言語：日本語 (JA)

0.03μmから280μmまでを1レンジで測定できるレーザ回...

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長さ,面積,断面,体積,容積,角度の計測法・機器

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