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J-GLOBAL ID：200902086161417460   整理番号：87A0110117

高分解能電顕の半導体人工格子への応用

Application of the high resolution electron microscope to the semiconductor artificial lattice.

著者 (3件)： 市野瀬英喜 (東大 生産技研) ,  石田洋一 (東大 生産技研) ,  榊裕之 (東大 生産技研)
資料名： 日本金属学会シンポジウム講演予稿・一般講演概要  (日本金属学会会報まてりあ臨時増刊)
巻： 99th  ページ： 42-43  発行年： 1986年10月 
JST資料番号： Y0242A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 分子線エピタキシー法で作製した半導体人工格子の構造観察を高分...

シソーラス用語： 分解能 ,...
準シソーラス用語： 人工格子

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分類 (2件)： 顕微鏡法  (BK01040E) ,  半導体の表面構造  (BK15030A)

タイトルに関連する用語 (3件)： 高分解能電顕 ,  人工格子 ,  応用