KOELZER J について
Siemens AG, Muenchen, DEU について
IBM/Siemens, New York について
DALLMANN A について
Siemens AG, Muenchen, DEU について
DEBOY G について
Technical Univ., Garching, DEU について
Siemens AG, Muenchen, DEU について
WEINMANN D について
Siemens AG, Muenchen, DEU について
Journal of Applied Physics について
発光 について
光学的測定とその装置一般 について
固体デバイス計測・試験・信頼性 について
定量 について
光放出 について
顕微鏡法 について