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J-GLOBAL ID：200902087976100204   整理番号：83A0336027

Si(111)上の7×7再構成表面の実空間の分解

7×7 Reconstruction on Si(111) resolved in real space.

著者 (4件)： BINNIG G (IBM, Switzerland) ,  ROHRER H (IBM, Switzerland) ,  GERBER C (IBM, Switzerland) ,  WEIBEL E (IBM, Switzerland)
資料名： Physical Review Letters  (Physical Review Letters)
巻： 50  号： 2  ページ： 120-123  発行年： 1983年01月10日 
JST資料番号： H0070A  ISSN： 0031-9007  CODEN： PRLTAO  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 走査トンネル顕微鏡法によって,Si(111)上の7×7再構成...

シソーラス用語： 表面構造 ,...
準シソーラス用語： 電界電子顕微鏡 ,...

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分類 (2件)： 顕微鏡法  (BK01040E) ,  半導体の表面構造  (BK15030A)

タイトルに関連する用語 (4件)： Si ,  再構成 ,  実空間 ,  分解