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J-GLOBAL ID:200902089291412249   整理番号:84A0304642

ランダムパターン検査可能性

Random pattern testability.
著者 (3件):
資料名:
巻: 33  号:ページ: 79-90  発行年: 1984年01月 
JST資料番号: C0233A  ISSN: 0018-9340  CODEN: ICTOB4  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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論理回路の乱数入力による検査における問題点は,故障検出率の推...
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分類 (1件):
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論理回路 
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