ランダムパターン検査可能性

SAVIR J; DITLOW G S; BARDELL P H

文献

J-GLOBAL ID：200902089291412249 整理番号：84A0304642

ランダムパターン検査可能性

Random pattern testability.

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資料名：
巻： 33 号： 1 ページ： 79-90 発行年： 1984年01月
JST資料番号： C0233A ISSN： 0018-9340 CODEN： ICTOB4 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

論理回路の乱数入力による検査における問題点は,故障検出率の推...

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論理回路

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