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J-GLOBAL ID：200902089720988502   整理番号：92A0059359

原子間力顕微鏡(AFM)を用いた重合体付着のサブミクロン領域の測定 トポグラフィーと材料の不均一性への依存性

Submicron probe of polymer adhesion with atomic force microscopy: Dependence on topography and material inhomogeneities.

著者 (5件)： MIZES H A (Xerox Webster Research Center, New York) ,  LOH K-G (Univ. Rochester, New York) ,  MILLER R J D (Univ. Rochester, New York) ,  AHUJA S K (Xerox Corp., New York) ,  GRABOWSKI E F (Xerox Corp., New York)
資料名： Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)
巻： 59  号： 22  ページ： 2901-2903  発行年： 1991年11月25日 
JST資料番号： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ポリカーボネートの付着力の表面形状や材料の不均一性への依存性...

シソーラス用語： 原子間相互作用 ,...

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分類 (2件)： 高分子固体の構造と形態学  (CG02022M) ,  顕微鏡法  (BK01040E)

タイトルに関連する用語 (7件)： 原子間力顕微鏡 ,  AFM ,  重合体 ,  サブ ,  トポグラフィー ,  不均一性 ,  依存性