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J-GLOBAL ID：200902091793555811   整理番号：89A0306853

後方散乱X線イメージング

Backscatter X-ray imaging.
著者 (3件)：
BOSSI R H

BOSSI R H について

(Boeing Aerospace Co., WA, USA)

Boeing Aerospace Co., WA, USA について

, 
FRIDDELL K D

FRIDDELL K D について

(Boeing Aerospace Co., WA, USA)

Boeing Aerospace Co., WA, USA について

, 
NELSON J M

NELSON J M について

(Boeing Aerospace Co., WA, USA)

Boeing Aerospace Co., WA, USA について


資料名：
Materials Evaluation  (Materials Evaluation)

Materials Evaluation について


巻： 46  号： 11  ページ： 1462-1467  発行年： 1988年10月 
JST資料番号： D0203A  ISSN： 0025-5327  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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物質の特性の変化を画像化するためにX線の後方散乱線を検出する...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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X線照射

X線照射 について

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分類 (1件)：
分類
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(MC01060N)

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タイトルに関連する用語
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後方散乱

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X線イメージング

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