固体微細構造における雑音  個別欠陥,界面準位および低周波数(1/f)ノイズに関する新しい知見

KIRTON M J; UREN M J

文献

J-GLOBAL ID：200902092499571856 整理番号：89A0553291

固体微細構造における雑音個別欠陥,界面準位および低周波数(1/f)ノイズに関する新しい知見

Noise in solid-state microstructures: A new perspective on individual defects, interface states and low-frequency (1/f) noise.

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巻： 38 号： 4 ページ： 367-468 発行年： 1989年07月
JST資料番号： A0326A ISSN： 0001-8732 CODEN： ADPHA 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：文献レビュー発行国：イギリス (GBR) 言語：英語 (EN)

微小デバイスで生じる,個々の欠陥におけるキャリアの捕獲と放出...

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金属-絶縁体-半導体構造【’81~’92】 , 固体デバイス一般

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固体微細構造における雑音 個別欠陥,界面準位および低周波数(1/f)ノイズに関する新しい知見

固体微細構造における雑音個別欠陥,界面準位および低周波数(1/f)ノイズに関する新しい知見