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J-GLOBAL ID:200902094121077007   整理番号:85A0387802

シンクロトロンX線回折を用いたInSb(111)2×2表面のモデルによらない構造決定

Model-independent structure determination of the InSb(111)2×2 surface with use of synchrotron X-ray diffraction.
著者 (6件):
資料名:
巻: 54  号: 12  ページ: 1275-1278  発行年: 1985年03月25日 
JST資料番号: H0070A  ISSN: 0031-9007  CODEN: PRLTAO  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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すれすれ入射のX線回折は結晶の表面内構造にきわめて敏感なため...
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分類 (2件):
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半導体の表面構造  ,  X線回折法 
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