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J-GLOBAL ID：200902094121077007   整理番号：85A0387802

シンクロトロンX線回折を用いたInSb(111)2×2表面のモデルによらない構造決定

Model-independent structure determination of the InSb(111)2×2 surface with use of synchrotron X-ray diffraction.

著者 (6件)： BOHR J (Riso National Lab., Denmark) ,  FEIDENHANS’L R (Riso National Lab., Denmark) ,  NIELSEN M (Riso National Lab., Denmark) ,  TONEY M (Riso National Lab., Denmark) ,  JOHNSON R L (Max Planck Inst. Festkoerperforschung, Federal Republic of Germany) ,  ROBINSON I K (AT&T, New Jersey)
資料名： Physical Review Letters  (Physical Review Letters)
巻： 54  号： 12  ページ： 1275-1278  発行年： 1985年03月25日 
JST資料番号： H0070A  ISSN： 0031-9007  CODEN： PRLTAO  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： すれすれ入射のX線回折は結晶の表面内構造にきわめて敏感なため...

シソーラス用語： 表面構造 ,...

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分類 (2件)： 半導体の表面構造  (BK15030A) ,  X線回折法  (BK01020I)

タイトルに関連する用語 (3件)： シンクロトロンX線回折 ,  InSb ,  モデル