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J-GLOBAL ID：200902099537431359   整理番号：86A0272795

電熱気化-誘導結合プラズマ原子発光分析における干渉排除のための時間ゲート化

Time gating for the elimination of interferences in electrothermal vaporization-inductively coupled plasma atomic emission spectrometry.

著者 (2件)： TIKKANEN M W (Health and Environment Dep., New Mexico) ,  NIEMCZYK T M (Univ. New Mexico)
資料名： Analytical Chemistry  (Analytical Chemistry)
巻： 58  号： 2  ページ： 366-370  発行年： 1986年02月 
JST資料番号： A0395A  ISSN： 0003-2700  CODEN： ANCHAM  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 誘導結合プラズマ分光計の試料導入系として電熱気化装置を使用し...

シソーラス用語： 原子発光分析 ,...
準シソーラス用語： 誘導結合プラズマ原子発光分析

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分類 (1件)： 分光分析  (CC03012W)

タイトルに関連する用語 (5件)： 電熱気化 ,  誘導結合プラズマ原子発光分析 ,  干渉 ,  排除 ,  ゲート