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J-GLOBAL ID：200902099560379844   整理番号：87A0119625

2モードで完全にテストできる高効率LSSDクロック発生回路

Efficient two-mode fully testable LSSD clock generator circuit.
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資料名：
IBM Technical Disclosure Bulletin  (IBM Technical Disclosure Bulletin)

IBM Technical Disclosure Bulletin について


巻： 29  号： 4  ページ： 1785-1786  発行年： 1986年09月 
JST資料番号： E0292B  ISSN： 0018-8689  CODEN： IBMTA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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1つの発振器入力をもち,2相パルスを発生する従来の回路は5つ...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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回路設計

回路設計 について

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シソーラス用語/準シソーラス用語
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LSSD

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分類 (2件)：
分類
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固体デバイス計測・試験・信頼性 
(NC03040G)

固体デバイス計測・試験・信頼性 について

,  発振回路 
(NC05020Y)

発振回路 について

タイトルに関連する用語 (3件)：
タイトルに関連する用語
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テスト

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, 
高効率

高効率 について

, 
クロック発生回路

クロック発生回路 について


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