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J-GLOBAL ID：200902100082736049   整理番号：97A0206550

新しいゾルゲル過程で作製したジルコニウム酸チタン酸鉛厚膜の評価

Characterization of thick lead zirconate titanate films fabricated using a new sol gel based process.

著者 (4件)： BARROW D A (Datec Coating Corp., Ontario, CAN) ,  PETROFF T E (Datec Coating Corp., Ontario, CAN) ,  TANDON R P (National Physical Lab., New Delhi, IND) ,  SAYER M (Queen’s Univ., Ontario, CAN)
資料名： Journal of Applied Physics  (Journal of Applied Physics)
巻： 81  号： 2  ページ： 876-881  発行年： 1997年01月15日 
JST資料番号： C0266A  ISSN： 0021-8979  CODEN： JAPIAU  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： PZT粉末をゾルゲルマトリックスに分散させて0/3-セラミッ...

シソーラス用語： ゾル-ゲル法 ,...
準シソーラス用語： PZT【鉛化合物】 ,...

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分類 (2件)： 強誘電体,反強誘電体,強弾性  (BM05030B) ,  酸化物薄膜  (BK14050P)

タイトルに関連する用語 (5件)： 過程 ,  作製 ,  ジルコニウム酸チタン酸鉛 ,  厚膜 ,  評価