YAMANAKA K について
Tohoku Univ., Sendai, JPN について
NOGUCHI A について
Tohoku Univ., Sendai, JPN について
Tohoku Univ., Sendai, JPN について
KOIKE T について
Tohoku Univ., Sendai, JPN について
Mitsubishi Heavy Industry Ltd., Yokohama, JPN について
Surface and Interface Analysis について
超音波顕微鏡 について
HOPG について
顕微鏡法 について
固体の音波物性一般 について
固体の機械的性質一般 について
超音波 について
AFM について
定量 について
キャラクタリゼーション について