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J-GLOBAL ID：200902100277099663   整理番号：94A0080004

シンクロトロン放射源に設置した3軸結晶回折計により測定したBragg強度プロフィルの半値幅 I FWHMの簡単な導出

The Half-Widths of Bragg Intensity Profiles Measured with a Triple-Crystal Diffractometer at a Synchrotron-Radiation Source. I. Derivation of a Simple Expression for the Full Width at Half-Maximum.

著者 (1件)： ROSSMANITH E (Univ. Hamburg, Hamburg, DEU)
資料名： Journal of Applied Crystallography  (Journal of Applied Crystallography)
巻： 26  号： 6  ページ： 753-755  発行年： 1993年12月01日 
JST資料番号： D0631A  ISSN： 0021-8898  CODEN： JACGAR  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 著者[Acta.Cryst.,A48,596(1993);A...

シソーラス用語： シンクロトロン放射 ,...

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分類 (1件)： X線回折法  (BK01020I)

タイトルに関連する用語 (9件)： シンクロトロン ,  放射源 ,  3軸 ,  結晶 ,  回折計 ,  プロフィル ,  半値幅 ,  FWHM ,  導出