文献
J-GLOBAL ID:200902100559930926 整理番号:93A0445253
バウンダリ・スキャンが100%のテスト・カバレジを要求!!
Boundary scan requires 100% test coverage!!
出版者サイト
複写サービスで全文入手
{{ this.onShowCLink("http://jdream3.com/copy/?sid=JGLOBAL&noSystem=1&documentNoArray=93A0445253©=1") }}
高度な検索・分析はJDreamⅢで
{{ this.onShowJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=93A0445253&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=B0452A") }}
資料名:
Electronic Engineering (Electronic Engineering)
Electronic Engineering について
JST資料番号 B0452A ですべてを検索
ISSN,ISBN,CODENですべてを検索
資料情報を見る
巻:
65
号:
796
ページ:
27-28
発行年:
1993年04月
JST資料番号:
B0452A
ISSN:
0013-4902
CODEN:
ELCEA
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
解説
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)
抄録/ポイント:
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
バウンダリ・スキャンがシステムのテスト容易性を向上させ,ひい...
シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ(有料)でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
ASIC
ASIC について
「ASIC」ですべてを検索
この用語の用語情報を見る
,...
続きはJDreamIII(有料)にて
{{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=93A0445253&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=B0452A") }}
分類 (1件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
固体デバイス計測・試験・信頼性
(NC03040G)
固体デバイス計測・試験・信頼性 について
分類コード NC03040G で文献を検索
分類コード4桁 NC03 で文献を検索
タイトルに関連する用語 (3件):
タイトルに関連する用語
J-GLOBALで独自に切り出した文献タイトルの用語をもとにしたキーワードです
テスト
テスト について
「テスト」ですべてを検索
この用語の用語情報を見る
,
カバ
カバ について
「カバ」ですべてを検索
この用語の用語情報を見る
,
レジ
レジ について
「レジ」ですべてを検索
この用語の用語情報を見る
前のページに戻る
TOP
BOTTOM