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J-GLOBAL ID：200902100624629295   整理番号：97A0950390

単結晶上の微小領域のためのX線応力測定法

An X-Ray Stress Measurement Method for Very Small Areas on Single Crystals.

著者 (3件)： YOSHIIKE T (Hamamatsu Polytechnic Coll., Hamamatsu, JPN) ,  FUJII N (Polytechnic Univ., Sagamihara, JPN) ,  KOZAKI S (Polytechnic Univ., Sagamihara, JPN)
資料名： Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers  (Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻： 36  号： 9A  ページ： 5764-5769  発行年： 1997年09月 
JST資料番号： G0520B  ISSN： 0021-4922  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 直径60μmのX線ビームを用いて単結晶上の非常に小さい領域に...

シソーラス用語： X線応力測定 ,...

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分類 (3件)： X線回折法  (BK01020I) ,  固体の機械的性質一般  (BL01021C) ,  弾性力学一般  (HC02010M)

引用文献 (12件)：

• 1) X Sen Oryoku Sokutei Ho (X-Ray Stress Measuring Method), ed. Society of Materials Science Japan (Yokendo, Tokyo, 1981) [in Japanese].
• 2) J. H. Auld and G. B. Greennough: Acta Met. 2 (1954) 209.
• 3) M. C. M. Farquhar and H. Lipson: Proc. Phys. Soc. 58 (1946) 200.
• 4) N. Hosokawa and S. Nobunaga: JSME 18 (1969) 38.
• 5) T. Konaga and K. Honda: Proc. 13th Japan Congr. Mater. Res. (1970) p. 1.

タイトルに関連する用語 (3件)： 単結晶 ,  微小領域 ,  X線応力測定