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J-GLOBAL ID：200902100827544554   整理番号：94A0389713

走査トンネル顕微鏡/分光技術

STM/STS technique.

著者 (2件)： 長谷川哲也 (東大 工) ,  南任真史 (東大 工)
資料名： 応用物理  (JSAP International)
巻： 63  号： 4  ページ： 402-403  発行年： 1994年04月 
JST資料番号： F0252A  ISSN： 0369-8009  CODEN： OYBSA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 高温超伝導体の層状の電子構造を把握することは超伝導の機構や電...

シソーラス用語： 走査型トンネル顕微鏡 ,...

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分類 (2件)： 超伝導体の物性一般  (BM04021A) ,  酸化物系超伝導体の物性  (BM04023I)

引用文献 (6件)：

• HASEGAWA, T. Physical Properties of High Temperature Superconductors III. 1992, 525
• HASEGAWA, T. Jpn. J. Appl. Phys. 1990, 29, L434
• NANTOH, M. Appl. Phys. Lett
• NANTOH, M. J. Appl. Phys
• HASEGAWA, T. J. Phys. Chem. Solid. 1992, 53, 1643

タイトルに関連する用語 (2件)： 走査トンネル顕微鏡 ,  分光技術