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J-GLOBAL ID：200902101228656243   整理番号：96A0590741

テスト技術評価用実験チップ 実験結果

An experimental chip to evaluate test techniques experiment results.

著者 (3件)： MA S C (Stanford Univ., CA) ,  FRANCO P (Stanford Univ., CA) ,  MCCLUSKEY E J (Stanford Univ., CA)
資料名： Proceedings. International Test Conference  (Proceedings. International Test Conference)
巻： 1995  ページ： 663-672  発行年： 1995年 
JST資料番号： E0211B  ISSN： 1089-3539  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 組み合わせ論理回路のさまざまなテスト法の評価を可能にするため...

シソーラス用語： 組合せ回路 ,...

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分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  ディジタル計算機ハードウェア一般  (JC04010C)

タイトルに関連する用語 (4件)： テスト ,  評価 ,  実験 ,  実験結果