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文献
J-GLOBAL ID：200902101468248940   整理番号：00A1046860

実装ラインにおける検査技術 高密度実装分野におけるX線検査技術

  • 出版者サイト {{ this.onShowPLink("テキストリンク | 文献 | JA | PC", "出版者サイト", "http://www.gicho.co.jp/ept/", "L0322AA") }} 複写サービス
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著者 (1件)：
普光江哲裕

普光江哲裕 について

(日立国際電気)

日立国際電気 について


資料名：
エレクトロニクス実装技術  (Electronic Packaging Technology)

エレクトロニクス実装技術 について


巻： 16  号： 11  ページ： 44-48  発行年： 2000年11月
JST資料番号： L0322A  ISSN： 1342-2839  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
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最近のダウンサイジングに伴う実装技術の進歩は目覚ましいものが...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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高密度実装

高密度実装 について

,...
準シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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ラミノグラフィ

ラミノグラフィ について


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分類 (2件)：
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
固体デバイス計測・試験・信頼性 
(NC03040G)

固体デバイス計測・試験・信頼性 について

,  プリント回路 
(NA05040O)

プリント回路 について

タイトルに関連する用語 (3件)：
タイトルに関連する用語
J-GLOBALで独自に切り出した文献タイトルの用語をもとにしたキーワードです
実装

実装 について

, 
高密度実装

高密度実装 について

, 
X線検査

X線検査 について


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