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J-GLOBAL ID：200902101753837984   整理番号：00A0710203

チタン酸ストロンチウム系半導体コンデンサーの粒界構造のTEM観察

TEM Analysis of Grain Boundaries in SrTiO₃-Based Semiconductor Ceramics.

著者 (2件)： 柴垣茂樹 (住友金属工業 エレクトロニクス技研) ,  亀井一人 (住友金属工業 エレクトロニクス技研)
資料名： 日本セラミックス協会学術論文誌  (Journal of the Ceramic Society of Japan)
巻： 108  号： 1259  ページ： 666-672  発行年： 2000年07月01日 
JST資料番号： F0382A  ISSN： 0914-5400  CODEN： JCSJEW  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 標記コンデンサの粒界層形成過程を調べるため,拡散処理途中の試...

シソーラス用語： *チタン酸ストロンチウム ,...

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分類 (1件)： LCR部品  (NA05030D)

引用文献 (22件)：

• FRANKEN, P. E. C. J.Am.Ceram.Soc. 1981, 64, 687-690
• KLERK, J. Advamces in Ceramics. 1981, 1, 282-289
• WERNICKE, R. Advamces in Ceramics. 1981, 1, 261-271
• MAUCZOK, R. Philips Tech.Rev. 1983, 41, 338-346
• FUJIMOTO, M. J.Am.Ceram.Soc. 1985, 68, 169-173

タイトルに関連する用語 (4件)： チタン酸ストロンチウム ,  コンデンサー ,  粒界構造 ,  TEM観察