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J-GLOBAL ID：200902101779507656   整理番号：00A0829503

磁気力顕微鏡を用いた微細磁区構造解析法およびその高密度磁気記録媒体への適用

Magnetic Force Microscope Analysis of Fine Magnetic Domain Structure and Its Application to High-Density Magnetic Recording Media.

著者 (2件)： 斉藤準 (秋田大 工学資源) ,  石尾俊二 (秋田大 工学資源)
資料名： 日本応用磁気学会誌  (Journal of the Magnetics Society of Japan)
巻： 24  号： 9  ページ： 1221-1228  発行年： 2000年09月01日 
JST資料番号： Z0944A  ISSN： 0285-0192  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 近年磁性材料が高密度記憶媒体などに適用されることが多く,その...

シソーラス用語： *磁気力顕微鏡 ,...
準シソーラス用語： *構造解析法 ,...

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分類 (1件)： 顕微鏡法  (BK01040E)

タイトルに関連する用語 (5件)： 磁気力顕微鏡 ,  微細 ,  磁区構造 ,  解析法 ,  高密度磁気記録媒体