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J-GLOBAL ID：200902104074183192   整理番号：96A0048348

MRヘッド膜の腐食評価,寿命推定

The Corrosion Evaluation and the Life-time Esitimation of Exchange-Biasing Films For MR-Heads.

著者 (3件)： 斎藤美紀子 (NEC 機能エレクトロニクス研) ,  松村邦彦 (NEC 機能エレクトロニクス研) ,  山田一彦 (NEC 機能エレクトロニクス研)
資料名： 日本応用磁気学会学術講演概要集  (Digest of the Annual Conference on Magnetics in Japan)
巻： 19  ページ： 227  発行年： 1995年09月 
JST資料番号： Y0056A  ISSN： 1340-8100  資料種別： 会議録 (C)
発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

引用文献 (5件)：

• HEMPSTEAD, R. D. A Trans. Mag. 1978, MAG. 14, 521
• COHEN, S. L. J. Va. Sc. Technol. 1988, A6
• HANG, T. C. Material Process Characteristics VLSI. Proceeding International Conference. 1988, 82-85
• HOWARD, J. K. U. S. Patent No. 4,755,897. 1988
• LIN. Appl. Phys. Lett. 1994, 65, 1183-1185

タイトルに関連する用語 (3件)： MRヘッド ,  腐食評価 ,  寿命推定