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J-GLOBAL ID：200902104494890986   整理番号：99A0312094

順序回路に対する動的故障隠蔽と診断テストパターン発生器

Dynamic fault collapsing and diagnostic test pattern generation for sequential circuits.
著者 (2件)：
BOPPANA V

BOPPANA V について

(Fujitsu Lab. America, Inc., CA)

Fujitsu Lab. America, Inc., CA について

, 
FUCHS W K

FUCHS W K について

(Purdue Univ., IN)

Purdue Univ., IN について


資料名：
Digest of Technical Papers. IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design  (Digest of Technical Papers. IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design)

Digest of Technical Papers. IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design について


巻： 1998  ページ： 147-154  発行年： 1998年 
JST資料番号： D0968C  ISSN： 1092-3152  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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順序回路の診断テストパターン発生器(DATPG)の性能改良に...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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*順序回路

順序回路 について

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準シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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計算の複雑さ

計算の複雑さ について

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分類 (3件)：
分類
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論理回路 
(NC05070B)

論理回路 について

,  固体デバイス計測・試験・信頼性 
(NC03040G)

固体デバイス計測・試験・信頼性 について

,  CAD,CAM 
(JE10000A)

CAD,CAM について

タイトルに関連する用語 (5件)：
タイトルに関連する用語
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順序回路

順序回路 について

, 
故障

故障 について

, 
隠蔽

隠蔽 について

, 
診断テスト

診断テスト について

, 
パターン発生器

パターン発生器 について


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