文献
J-GLOBAL ID：200902104951070248   整理番号：97A0191914

発光顕微鏡観察および液晶解析の故障検証シミュレーション

Fault Verification Simulation for Light-Emission Microscopy and Liquid-Crystal Analysis.
  • 出版者サイト 複写サービスで全文入手
  • 高度な検索・分析はJDreamⅢで {{ this.onShowJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=97A0191914&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=D0658B") }}
著者 (4件)：
KUJI N

KUJI N について

(NTT System Electronics Lab., Kanagawa, JPN)

NTT System Electronics Lab., Kanagawa, JPN について

, 
TAKEDA T

TAKEDA T について

(NTT System Electronics Lab., Kanagawa, JPN)

NTT System Electronics Lab., Kanagawa, JPN について

, 
NAKAMURA S

NAKAMURA S について

(NTT System Electronics Lab., Kanagawa, JPN)

NTT System Electronics Lab., Kanagawa, JPN について

, 
KOMINE Y

KOMINE Y について

(NTT System Electronics Lab., Kanagawa, JPN)

NTT System Electronics Lab., Kanagawa, JPN について


資料名：
Proceedings of the International Symposium for Testing and Failure Analysis  (Proceedings of the International Symposium for Testing and Failure Analysis)

Proceedings of the International Symposium for Testing and Failure Analysis について


巻： 22nd  ページ： 121-126  発行年： 1996年 
JST資料番号： D0658B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
発光顕微鏡観察(LEM)または液晶解析(LCA)における洩れ...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ（有料）でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
シミュレータプログラム

シミュレータプログラム について

,...
   続きはJDreamIII（有料）にて  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=97A0191914&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=D0658B") }}
分類 (1件)：
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
固体デバイス計測・試験・信頼性 
(NC03040G)

固体デバイス計測・試験・信頼性 について

タイトルに関連する用語 (6件)：
タイトルに関連する用語
J-GLOBALで独自に切り出した文献タイトルの用語をもとにしたキーワードです
顕微鏡観察

顕微鏡観察 について

, 
液晶

液晶 について

, 
解析

解析 について

, 
故障

故障 について

, 
検証

検証 について

, 
シミュレーション

シミュレーション について


前のページに戻る

TOP

BOTTOM