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J-GLOBAL ID：200902106216645892   整理番号：00A0319371

無閉路部分スキャン設計に基づくデータパスのテスト容易化高位合成におけるバインディング手法

A Binding Method in High-Level Synthesis for Testable Data Paths Based on Acyclic Partial Scan Design.

著者 (3件)： 高崎智也 (奈良先端科学技術大学院大) ,  井上智生 (広島市大 情報科学) ,  藤原秀雄 (奈良先端科学技術大学院大)
資料名： 電子情報通信学会論文誌 D-1  (IEICE Transactions on Information and Systems, Pt.1 (Japanese Edition))
巻： J83-D-1  号： 2  ページ： 282-292  発行年： 2000年02月25日 
JST資料番号： S0757B  ISSN： 0915-1915  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 本論文では,無閉路構造に基づく部分スキャン設計のための,デー...

シソーラス用語： *回路合成 ,...
準シソーラス用語： 高位合成 ,...

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分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  論理回路  (NC05070B)

タイトルに関連する用語 (7件)： 閉路 ,  スキャン設計 ,  パス ,  テスト ,  容易 ,  高位合成 ,  手法