Advances in polymer surface characterization using time-of-flight secondary ion mass spectrometry.

文献

J-GLOBAL ID：200902106642484014 整理番号：93A0830370

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巻： 34 号： 2 ページ： 52-53 発行年： 1993年08月
JST資料番号： D0122B ISSN： 0032-3934 資料種別：会議録 (C)
発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

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