文献
J-GLOBAL ID：200902107280832945 整理番号：94A0514986
LSIの最新故障解析技術とその限界
Advanced LSI Failure Analysis and its Limitation.
出版者サイト
複写サービスで全文入手
{{ this.onShowCLink("http://jdream3.com/copy/?sid=JGLOBAL&noSystem=1&documentNoArray=94A0514986©=1") }}
高度な検索・分析はJDreamⅢで
{{ this.onShowJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=94A0514986&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=S0532B") }}
著者 (1件)：
村瀬真道
村瀬真道 について
名寄せID(JGPN) 200901100433170116 ですべてを検索
「村瀬真道」ですべてを検索
(
NEC
)
NEC について
名寄せID(JGON) 201551000097370458 ですべてを検索
「NEC」ですべてを検索
機関情報を見る
資料名：
電子情報通信学会技術研究報告 (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
電子情報通信学会技術研究報告 について
JST資料番号 S0532B ですべてを検索
ISSN,ISBN,CODENですべてを検索
資料情報を見る
巻：
94
号：
52(R94 1-5)
ページ：
13-18
発行年：
1994年05月20日
JST資料番号：
S0532B
ISSN：
0913-5685
資料種別：
会議録 (C)
記事区分：
原著論文
発行国：
日本 (JPN)
言語：
日本語 (JA)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
LSIの最新故障解析技術及びその限界を紹介する。大規模LSI...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ（有料）でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
故障解析
故障解析 について
「故障解析」ですべてを検索
この用語の用語情報を見る
,...
続きはJDreamIII（有料）にて
{{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=94A0514986&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=S0532B") }}
分類 (1件)：
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
固体デバイス計測・試験・信頼性
(NC03040G)
固体デバイス計測・試験・信頼性 について
分類コード NC03040G で文献を検索
分類コード4桁 NC03 で文献を検索
タイトルに関連する用語 (3件)：
タイトルに関連する用語
J-GLOBALで独自に切り出した文献タイトルの用語をもとにしたキーワードです
LSI
LSI について
「LSI」ですべてを検索
この用語の用語情報を見る
,
故障解析
故障解析 について
「故障解析」ですべてを検索
この用語の用語情報を見る
,
限界
限界 について
「限界」ですべてを検索
この用語の用語情報を見る
前のページに戻る
TOP
BOTTOM
