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J-GLOBAL ID：200902107525549594   整理番号：93A0904833

室温動作用0.1μm CMOSの作製及び評価

Characterization of 0.1μm CMOS Devices Operating at Room Temperature.

著者 (6件)： 岩瀬政雄 (東芝 LSI研) ,  水野智久 (東芝 LSI研) ,  高橋稔 (東芝 LSI研) ,  新山広美 (東芝 LSI研) ,  稲葉聡 (東芝 LSI研) ,  吉見信 (東芝 LSI研)
資料名： 電子情報通信学会大会講演論文集  (電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集)
巻： 1993  号： Shuki Pt 5  ページ： 5.194-5.195  発行年： 1993年09月 
JST資料番号： G0508A  ISSN： 1349-1369  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 今後のLSI技術に於いて,実用的な観点からCMOSの室温動作...

シソーラス用語： 室温 ,...

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分類 (1件)： トランジスタ  (NC03070N)

タイトルに関連する用語 (4件)： 室温 ,  CMOS ,  作製 ,  評価