文献
J-GLOBAL ID：200902107865319445   整理番号：97A0743096

Enhancement of sensitivity of the potential drop technique for sizing a crack by using closely coupled probes.

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著者 (3件)：
SAKA M

SAKA M について

(Tohoku Univ., Sendai, JPN)

Tohoku Univ., Sendai, JPN について

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HIROTA D

HIROTA D について

(Tohoku Univ., Sendai, JPN)

Tohoku Univ., Sendai, JPN について

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ABE H

ABE H について

(Tohoku Univ., Sendai, JPN)

Tohoku Univ., Sendai, JPN について


資料名：
Trends in NDE Science and Technology: Proceedings of the 14th World Conference on NDT, 1996, Vol. 3  (Trends in NDE Science and Technology: Proceedings of the 14th World Conference on NDT, 1996, Vol. 3)

Trends in NDE Science and Technology: Proceedings of the 14th World Conference on NDT, 1996, Vol. 3 について


ページ： 1659-1662  発行年： 1996年 
JST資料番号： K19970366  ISBN： 90-5410-740-5  資料種別： 会議録 (C)
発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

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