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J-GLOBAL ID：200902108414875391   整理番号：94A0314051

PMOSTのホットキャリアー劣化過程における酸化膜電荷の生成

Oxide-charge generation during hot-carrier degradation of PMOSTs.

著者 (2件)： WOLTJER R (Philips Research Lab., Eindhoven, NLD) ,  PAULZEN G M (Philips Research Lab., Eindhoven, NLD)
資料名： Technical Digest. International Electron Devices Meeting  (Technical Digest. International Electron Devices Meeting)
巻： 1993  ページ： 713-716  発行年： 1993年 
JST資料番号： C0829B  ISSN： 0163-1918  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： PMOSTの酸化膜電荷生成に対する新モデルを提案し,実験的に...

シソーラス用語： MOSFET ,...

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分類 (1件)： トランジスタ  (NC03070N)

タイトルに関連する用語 (4件)： ホットキャリアー ,  劣化過程 ,  酸化膜 ,  電荷