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J-GLOBAL ID：200902108558952102   整理番号：97A0770950

近接場プローブ用のナノ開口を作製するための固体電界侵食法の利用

Use of solid electrolytic erosion for generating nano-aperture near-field collectors.

著者 (4件)： MULIN D (Univ. Franche-Comte, Besancon, FRA) ,  COURJON D (Univ. Franche-Comte, Besancon, FRA) ,  MALUGANI J-P (Univ. Franche-Comte, Besancon, FRA) ,  GAUTHIER-MANUEL B (Univ. Franche-Comte, Besancon, FRA)
資料名： Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)
巻： 71  号： 4  ページ： 437-439  発行年： 1997年07月28日 
JST資料番号： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 近接場光学顕微鏡のためのナノ開口プローブを作製する新しい方法...

シソーラス用語： 光学顕微鏡法 ,...
準シソーラス用語： 電食 ,...

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分類 (1件)： 光学的測定とその装置一般  (BD07010S)

タイトルに関連する用語 (6件)： 近接場 ,  プローブ ,  作製 ,  固体 ,  電界 ,  侵食