原子-トラッキング走査トンネル顕微鏡を用いた表面拡散の直接観察

SWARTZENTRUBER B S

文献

J-GLOBAL ID：200902108618906555 整理番号：96A0165873

原子-トラッキング走査トンネル顕微鏡を用いた表面拡散の直接観察

Direct Measurement of Surface Diffusion Using Atom-Tracking Scanning Tunneling Microscopy.

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著者 (1件)：
資料名：
巻： 76 号： 3 ページ： 459-462 発行年： 1996年01月15日
JST資料番号： H0070A ISSN： 0031-9007 CODEN： PRLTAO 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：短報発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

室温~128°CのSi(001)表面におけるSiダイマの拡散を...

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半導体の表面構造

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