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J-GLOBAL ID：200902108873447491   整理番号：99A0278708

安定型及び不安定型染色体異常から計算したF比を基としたちょう密電離放射線による染色体指紋の理論的,実験的試験

Theoretical and Experimental Tests of a Chromosomal Fingerprint for Densely Ionizing Radiation Based on F Ratios Calculated from Stable and Unstable Chromosome Aberrations.

著者 (9件)： LUCAS J N (Univ. California, California) ,  DENG W (Univ. California, California) ,  ORAM S W (Univ. California, California) ,  HILL F S (Univ. California, California) ,  DURANTE M (Univ. “Federico II”, Napoli, ITA) ,  GEORGE K (NASA Johnson Space Center, Texas) ,  WU H (NASA Johnson Space Center, Texas) ,  OWENS C L (Univ. California, California) ,  YANG T (NASA Johnson Space Center, Texas)
資料名： Radiation Research  (Radiation Research)
巻： 151  号： 1  ページ： 85-91  発行年： 1999年01月 
JST資料番号： D0484A  ISSN： 0033-7587  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 安定型異常(逆位に対する転座の比;SCA)及び不安定型(二動...

シソーラス用語： γ線照射 ,...
準シソーラス用語： 安定型染色体異常 ,...

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分類 (2件)： 遺伝的変異  (EC01030Y) ,  細胞レベルに対する影響  (EK02030D)

タイトルに関連する用語 (9件)： 定型 ,  染色体異常 ,  計算 ,  電離放射線 ,  染色体 ,  指紋 ,  理論 ,  実験 ,  試験