LAI W-C について
Univ. California, Santa Barbara について
KRSTIC A について
Univ. California, Santa Barbara について
CHENG K-T について
Univ. California, Santa Barbara について
IEEE Design & Test of Computers について
マイクロプロセッサ について
故障カバレッジ について
固体デバイス計測・試験・信頼性 について
汎用演算制御装置 について
半導体集積回路 について
テスト について
マイクロプロセッサ について
データパス について
遅延故障 について