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J-GLOBAL ID：200902109226573392   整理番号：02A0951275

テスト特徴法に基づく逐次パタン学習

Sequential Pattern Learning based on Test Feature Classifier.

著者 (4件)： 坂田幸辰 (北大 大学院工学研究科) ,  金子俊一 (北大 大学院工学研究科) ,  高木裕治 (日立 生産技研) ,  奥田浩人 (日立 生産技研)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 102  号： 381(NC2002 44-54)  ページ： 25-30  発行年： 2002年10月17日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： ノンパラメトリックなパタン分類器として提案されたテスト特徴分...

シソーラス用語： *帰納学習 ,...
準シソーラス用語： テスト特徴法 ,...

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分類 (2件)： 人工知能  (JE08000Z) ,  パターン認識  (JE07000S)

タイトルに関連する用語 (4件)： テスト ,  逐次 ,  パタン ,  学習