走査電気化学-原子間力顕微鏡法の組み合わせ

MACPHERSON J V; UNWIN P R

文献

J-GLOBAL ID：200902110274719631 整理番号：00A0276132

走査電気化学-原子間力顕微鏡法の組み合わせ

Combined Scanning Electrochemical-Atomic Force Microscopy.

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資料名：
巻： 72 号： 2 ページ： 276-285 発行年： 2000年01月15日
JST資料番号： A0395A ISSN： 0003-2700 CODEN： ANCHAM 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

走査電気化学顕微鏡(SECM)と原子間力顕微鏡(AFM)を組...

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固-液界面 , 電極過程

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