スクラッチ試験により発生するAE信号を利用したセラミックス被膜の密着性評価試験

文献

J-GLOBAL ID：200902111542842901 整理番号：94A0424787

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資料名：
巻： 87th ページ： 130-131 発行年： 1993年03月
JST資料番号： Y0050A ISSN： 0917-2947 資料種別：会議録 (C)
発行国：日本 (JPN) 言語：日本語 (JA)

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