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J-GLOBAL ID:200902111883812164   整理番号:94A0770660

バンドギャップの広いSiC,III-V窒化物とII-VIのZnSeベース半導体のデバイス技術

Large-band-gap SiC, III-V nitride ,and II-VI ZnSe-based semiconductor device technologies.
著者 (6件):
資料名:
巻: 76  号:ページ: 1363-1398  発行年: 1994年08月01日 
JST資料番号: C0266A  ISSN: 0021-8979  CODEN: JAPIAU  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 文献レビュー  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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標記をレビューした。SiCやGaNは熱的にも化学的にもきわめ...
シソーラス用語:
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分類 (4件):
分類
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13-15族化合物を含む半導体-半導体接合  ,  13-15族化合物を含まない半導体-半導体接合  ,  金属-絶縁体-半導体構造  ,  固体デバイス一般 
タイトルに関連する用語 (4件):
タイトルに関連する用語
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