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J-GLOBAL ID：200902112191717974   整理番号：00A0208912

X線回折によるMgO(100)及びMgO(111)基板の品質評価

Assessment of MgO(100) and (111) substrate quality by X-ray diffraction.

著者 (4件)： MADSEN L D (Linkoepings Univ.(LiU), Linkoeping, SWE) ,  CHARAVEL R (Linkoepings Univ.(LiU), Linkoeping, SWE) ,  BIRCH J (Linkoepings Univ.(LiU), Linkoeping, SWE) ,  SVEDBERG E B (Linkoepings Univ.(LiU), Linkoeping, SWE)
資料名： Journal of Crystal Growth  (Journal of Crystal Growth)
巻： 209  号： 1  ページ： 91-101  発行年： 2000年01月
JST資料番号： B0942A  ISSN： 0022-0248  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： MgO{111}および{100}結晶は,超伝導体および超格子...

シソーラス用語： *酸化マグネシウム ,...

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分類 (1件)： 薄膜一般  (BK14010X)

引用文献 (1件)：

• Surface Observation of MgO Single Crystal with Atomic Force Microscope and Crystallographic Orientation Dependence of Wettability of MgO by Liquid Metals

タイトルに関連する用語 (3件)： X線回折 ,  MgO ,  品質評価