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文献
J-GLOBAL ID:200902112191717974   整理番号:00A0208912

X線回折によるMgO(100)及びMgO(111)基板の品質評価

Assessment of MgO(100) and (111) substrate quality by X-ray diffraction.
著者 (4件):
資料名:
巻: 209  号:ページ: 91-101  発行年: 2000年01月
JST資料番号: B0942A  ISSN: 0022-0248  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
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MgO{111}および{100}結晶は,超伝導体および超格子...
シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
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分類 (1件):
分類
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薄膜一般 
引用文献 (1件):
  • Surface Observation of MgO Single Crystal with Atomic Force Microscope and Crystallographic Orientation Dependence of Wettability of MgO by Liquid Metals
タイトルに関連する用語 (3件):
タイトルに関連する用語
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