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J-GLOBAL ID:200902112236082274   整理番号:02A0834967

平面半導体pHセンサを用いるpHイメージング顕微鏡による多孔性媒質中のプロトン拡散の観察と評価

Observation and Evaluation of Proton Diffusion in Porous Media by the pH-Imaging Microscope Using a Flat Semiconductor pH Sensor.
著者 (4件):
資料名:
巻: 18  号: 10  ページ: 1081-1084  発行年: 2002年10月10日 
JST資料番号: G0673B  ISSN: 0910-6340  CODEN: ANSCEN  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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プロトンに感受性があるSi3N<sub...
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分類 (2件):
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分析機器  ,  固体中の拡散一般 
物質索引 (1件):
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引用文献 (23件):
  • 1. S. Nomura, M. Nakao, T. Nakanishi, S. Takamatsu, and K. Tomita, Anal. Chem., 1997, 69, 977.
  • 2. T. Yoshinobu, H. Iwasaki, S. Nomura, M. Nakao, T. Nakanishi, S. Takamatsu, and K. Tomita, Jpn. J. Appl. Phys., 1998, 37, L353.
  • 3. Y. Kitasako, T. Nikaido, J. Tagami, K. Ikeda, K. Mitsunari, and S. Nomura, Bunseki Kagaku, 2000, 2, 325.
  • 4. S. Nomura, K. Mitsunari, M. Nakao, Y. Kohno, and R. Matsuki, G.I.T IMAGING & MICROSCOPY, 2000, 2, 59.
  • 5. Y. Kitasako, N. Hiraishi, M. Nakajima, T. Nikaido, J. Tagami, and S. Nomura, Jpn. J. Conserv. Dent., 2001, 44, 56.
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