文献

J-GLOBAL ID：200902113142377889   整理番号：97A0775307

熱電場処理による走査型トンネル顕微鏡法/走査型トンネル分光法用の探針の先鋭化過程

Sharpening Processes of Scanning Tunneling Microscopy/Scanning Tunneling Spectroscopy Tips by Thermal Field Treatment.

著者 (3件)： NAGAI M (Japan Advanced Inst. Sci. and Technol., Hokuriku, Ishikawa, JPN) ,  TOMITORI M (Japan Advanced Inst. Sci. and Technol., Hokuriku, Ishikawa, JPN) ,  NISHIKAWA O (Kanagawa Inst. Technol., Kanazawa-South, JPN)
資料名： Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers  (Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻： 36  号： 6B  ページ： 3844-3849  発行年： 1997年06月 
JST資料番号： G0520B  ISSN： 0021-4922  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 走査型トンネル顕微鏡法/分光法のための再現性があって理想的な...

シソーラス用語： 熱処理 ,...
準シソーラス用語： 電界電子顕微鏡

   続きはJDreamIII（有料）にて  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=97A0775307&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=G0520B") }}

分類 (2件)： 電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B) ,  顕微鏡法  (BK01040E)

引用文献 (13件)：

• 1) M. Tomitori, K. Sugata, G. Okuyama and H. Kimata: Surf. Sci. 355 (1996) 21.
• 2) J. P. Pelz: Phys. Rev. B43 (1991) 6746
• 3) R. M. Feenstra: Surf. Sci. 299/300 (1994) 965.
• 4) J. A. Vlasov, O. L. Golubev and V. N. Shrednik: J. Phys. (Paris). 49 (1988) C6-131.
• 5) V. G. Butenko, Yu. A. Vlasov, O. L. Golubev and V. N. Shrednik: Surf. Sci. 266 (1992) 165.

タイトルに関連する用語 (6件)： 電場 ,  走査型トンネル顕微鏡法 ,  走査型トンネル分光法 ,  探針 ,  先鋭化 ,  過程