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J-GLOBAL ID：200902113479563080   整理番号：01A0452098

Sm-Ba-Cu-Oバルク超電導体の引張破面観察

著者 (7件)： 村上明 (岩手大 大学院) ,  片桐一宗 (岩手大) ,  佐藤正 (岩手大) ,  笠場孝一 (岩手大) ,  正路良孝 (岩手大) ,  坂井直道 (超電導工学研) ,  村上雅人 (超電導工学研)
資料名： 日本機械学会東北支部総会・講演会講演論文集  (日本機械学会東北支部・精密工学会東北支部総会・講演会講演論文集)
巻： 36th  ページ： 76-77  発行年： 2001年03月10日 
JST資料番号： L0012A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 種結晶溶融成長法によるAg添加SmBaCuOバルク超電導体か...

シソーラス用語： 引張試験 ,...
準シソーラス用語： SmBaCuO超電導体

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分類 (2件)： 金属系超伝導体の物性  (BM04022R) ,  非破壊試験  (HB02030F)

タイトルに関連する用語 (6件)： Sm ,  BA ,  Cu ,  バルク超電導体 ,  引張 ,  破面観察