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J-GLOBAL ID：200902113677465264   整理番号：93A0902609

臨界取出角蛍光X線検出による表面層分析

Near-surface-layer analysis by critical takeoff-angle X-ray fluorescence detection.

著者 (3件)： HAYAKAWA S (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  SASAKI S (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  GOHSHI Y (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
資料名： Advances in X-Ray Analysis  (Advances in X-Ray Analysis)
巻： 36  ページ： 257-262  発行年： 1993年 
JST資料番号： H0119C  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 理論と実験の両面から臨界取出角蛍光X線検出による表面層分析を...

シソーラス用語： 表面分析 ,...
準シソーラス用語： 取出角 ,...

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分類 (3件)： X線スペクトル一般  (BM08101P) ,  金属薄膜  (BK14030T) ,  その他の物理分析  (CC03014E)

タイトルに関連する用語 (5件)： 臨界 ,  取出 ,  蛍光X線 ,  表面層 ,  分析