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J-GLOBAL ID：200902113869980901   整理番号：02A0207653

個々の粒状物質の分析に対する,Heマイクロ波誘導プラズマ発光分光分析(He-MIP-AES)の応用

Application of He-microwave induced plasma atomic emission spectroscopy to an analysis of individual particulate matter.

著者 (5件)： TAMURA S (Sci. Univ. Tokyo in Yamaguchi, Yamaguchi) ,  KIKUCHI T (Sci. Univ. Tokyo in Yamaguchi, Yamaguchi) ,  TAKAHARA H (Yokogawa Electric Corp., Tokyo) ,  MISHIMA M (Yokogawa Electric Corp., Tokyo) ,  FUJII Y (National Inst. Polar Res., Tokyo)
資料名： Polar Meteorology and Glaciology (National Institute of Polar Research)  (Polar Meteorology and Glaciology (National Institute of Polar Research))
号： 15  ページ： 124-132  発行年： 2001年11月 
JST資料番号： X0871A  ISSN： 1344-3437  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 南極氷床中のテフラ層粒子の分析を念頭に置いて,初めにHe-M...

シソーラス用語： 地質試料 ,...

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分類 (1件)： 岩石圏の地球化学一般  (DD01041C)

タイトルに関連する用語 (8件)： 粒状物質 ,  分析 ,  He ,  マイクロ波誘導プラズマ ,  発光分光分析 ,  MIP ,  AES ,  応用