文献
J-GLOBAL ID:200902113875846230
整理番号:94A0839491
ECT技術および小波に基づく異常の同定
Identification of Defects Based on ECT Technique and Wavelets.
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{{ this.onShowCLink("http://jdream3.com/copy/?sid=JGLOBAL&noSystem=1&documentNoArray=94A0839491©=1") }}
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{{ this.onShowJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=94A0839491&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=G0939A") }}