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J-GLOBAL ID：200902114005389906   整理番号：02A0442600

エアポスト屈折率導波構造の850nm垂直共振器面発光レーザの劣化挙動

Degradation Behavior of 850-nm Vertical-Cavity Surface-Emitting Lasers With an Air-Post Index-Guide Structure.

著者 (6件)： TAKESHITA T (NTT Corp., Kanagawa, JPN) ,  KAGAWA T (NTT Corp., Kanagawa, JPN) ,  TATENO K (NTT Corp., Kanagawa, JPN) ,  TADANAGA O (NTT Corp., Kanagawa, JPN) ,  TOHMORI Y (NTT Corp., Kanagawa, JPN) ,  AMANO C (NTT Corp., Kanagawa, JPN)
資料名： Journal of Lightwave Technology  (Journal of Lightwave Technology)
巻： 20  号： 4  ページ： 722-729  発行年： 2002年04月 
JST資料番号： H0922A  ISSN： 0733-8724  CODEN： JLTEDG  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 通常の垂直共振器面発光レーザ(VCSEL)は,陽子イオン打ち...

シソーラス用語： 信頼性 ,...
準シソーラス用語： *VCSEL ,...

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分類 (1件)： 半導体レーザ  (BD04070L)

タイトルに関連する用語 (7件)： エア ,  屈折率 ,  導波 ,  垂直 ,  共振器 ,  面発光レーザ ,  挙動