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J-GLOBAL ID：200902114136396959   整理番号：01A0523842

小角X線散乱及び原子間力顕微鏡法を用いてのAOT+フェノール有機ゲルの微細構造の定量

Microstructure Determination of AOT+Phenol Organogels Utilizing Small-angle X-ray Scattering and Atomic Force Microscopy.

著者 (7件)： SIMMONS B A (Tulane Univ., Louisiana) ,  TAYLOR C E (Tulane Univ., Louisiana) ,  LANDIS F A (Univ. Southern Mississippi, Mississippi) ,  JOHN V T (Tulane Univ., Louisiana) ,  MCPHERSON G L (Tulane Univ., Louisiana) ,  SCHWARTZ D K (Tulane Univ., Louisiana) ,  MOORE R (Univ. Southern Mississippi, Mississippi)
資料名： Journal of the American Chemical Society  (Journal of the American Chemical Society)
巻： 123  号： 10  ページ： 2414-2421  発行年： 2001年03月14日 
JST資料番号： C0254A  ISSN： 0002-7863  CODEN： JACSAT  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： AOT(こはく酸ビス(2-エチルヘキシル)スルホン酸ナトリウ...

シソーラス用語： 小角X線散乱 ,...

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分類 (1件)： 有機化合物の物理分析  (CC03034A)

物質索引 (2件)： 2-(ソジオオキシスルホニル)こはく酸ビス(2-エチルヘキシル) ,  p-クロロフェノール

タイトルに関連する用語 (6件)： 小角X線散乱 ,  原子間力顕微鏡法 ,  フェノール ,  有機ゲル ,  微細構造 ,  定量