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J-GLOBAL ID：200902114252905542   整理番号：02A0466004

パルス光励起表面電荷分離測定法によるTiO₂/Ti₂O₃積層膜の評価

著者 (3件)： 住田泰史 (原研) ,  山本春也 (原研) ,  宮下敦巳 (原研)
資料名： 応用物理学関係連合講演会講演予稿集  (Extended Abstracts. Spring Meeting. Japan Society of Applied Physics and Related Societies)
巻： 49th  号： 2  ページ： 590  発行年： 2002年03月27日 
JST資料番号： Y0054A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *酸化チタン ,...

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分類 (1件)： 半導体薄膜  (BK14040E)

タイトルに関連する用語 (7件)： パルス ,  光励起 ,  表面電荷 ,  測定法 ,  TiO2 ,  積層膜 ,  評価