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J-GLOBAL ID：200902115450925105   整理番号：03A0068797

表面測定における発展動向

Emerging Trends in Surface Metrology.
著者 (3件)：
LONARDO P M

LONARDO P M について

(Univ. Genoa, ITA)

Univ. Genoa, ITA について

, 
LUCCA D A

LUCCA D A について

(Oklahoma State Univ., USA)

Oklahoma State Univ., USA について

, 
DE CHIFFRE L

DE CHIFFRE L について

(Technical Univ. Denmark, DNK)

Technical Univ. Denmark, DNK について


資料名：
CIRP Annals (International Inst. for Production Engineering Research)  (CIRP Annals (International Inst. for Production Engineering Research))

CIRP Annals (International Inst. for Production Engineering Research) について


巻： 51  号： 2  ページ： 701-723  発行年： 2002年 
JST資料番号： E0026A  ISSN： 0007-8506  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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表面と表面近傍の特性を計測する方法と計測器における最近の開発...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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*表面粗さ

表面粗さ について

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準シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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表面測定

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分類 (1件)：
分類
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長さ,面積,断面,体積,容積,角度の計測法・機器 
(AD05020O)

長さ,面積,断面,体積,容積,角度の計測法・機器 について

タイトルに関連する用語 (2件)：
タイトルに関連する用語
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発展

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動向

動向 について


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