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J-GLOBAL ID：200902115966023507   整理番号：00A0471603

分光関連機器のメンテナンスと精度要因 II 赤外分光装置の測光精度要因と性能達成

著者 (2件)： 名越利之 (日本分光) ,  西沢誠治 (日本分光 技研)
資料名： 分光研究  (Journal of the Spectroscopical Society of Japan)
巻： 49  号： 2  ページ： 90-104  発行年： 2000年04月15日 
JST資料番号： F0007A  ISSN： 0038-7002  CODEN： BUKKAT  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 最も広く汎用されている走査型Michelson干渉計搭載のフ...

シソーラス用語： *赤外分光分析 ,...

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分類 (1件)： 分光分析  (CC03012W)

引用文献 (41件)：

• 1) 田隅三生 (編): FT-IRの基礎と実際,(東京化学同人, 東京, 1994).
• 田中誠之, 寺前紀夫: 赤外分光法 (共立出版, 東京, 1993).
• 錦田晃一, 岩本令吉: 赤外法による材料分析 (講談社, 東京, 1986).
• 錦田晃一, 西尾悦雄: チャートで見るFT-IR (講談社, 東京, 1990).
• 2) P.R. Griffiths: Chemical Infrared Fourier Transform Spec-troscopy, John Wiley & Sons, 1975.

タイトルに関連する用語 (6件)： 分光 ,  関連機器 ,  メンテナンス ,  要因 ,  赤外分光 ,  測光